硅片測厚儀(HS-WTT)

適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度測量。

特征

液晶顯示

接觸式測量

手動測量模式

數(shù)據(jù)實時顯示

具有輸出接口，可選配適配器實現(xiàn)232接口功能

技術指標

測量范圍：0～12.7mm

分辨率：0.001mm

外形尺寸：300mm（L）×200（B）×340mm（H）

凈重：20kg

標準

GB/T 1876-2007

典型用戶江蘇，浙江，廣東，湖南，內(nèi)蒙古，河南，河北，韓國，日本，新加坡等地的國內(nèi)外客戶。